Model3600

最高120テスト/秒の低コスト高速基板検査
model3600

製品概要

プリント基板をベアボードの状態で、電気的に検査を行う装置。
プリント基板製造メーカや基板検査を請け負うテストサービスメーカ。

製品の特長

特長その1

プリント基板をベアボードの状態で２プローブを使用して片面毎に検査します。
120テスト/秒の高速検査でスループット向上を実現します。

特長その2

片面を２プローブで高速に検査を行ので、FLEXなどの薄物基板やガラス基板の検査に適しています。

特長その3

プローブの高位置決め精度により高密度基板の検査を高速に検査可能です。

標準仕様

適用(Application)

基板サイズ(Board size) 20 mm – 650 mm x 810 mm
板厚(Thickness) 通常(Standard) 0.05mm-5.0mm
最小測定サイズ 注1
(Minimum testing size) Note1		 パターンピッチ(Pattern pitch) 40μm / エリア(Area)：100 mm (max)，100 μm / 全エリア (All area)
パッドサイズ
(Pad size)		 20μm / エリア(Area)：100 mm (max)，50 μm / 全エリア (All area)

システム仕様(System specification)

外形 / 重量(Dimensions / Weight) 1,560 (w) x 1,245 (d) x 1,200 (h) mm / 900 kg
電源(Power requirements) AC 200V ± 10% 3φ / 40A 注2(Note2)
プローブ(Probe) 数(Probe heads) 4本(4Probe heads)
繰り返し精度(Repeatability accuracy) ±3μm 注1(Note1) 注3(Note3)
接触圧(Contact pressure) 2gr-10gr
基板セット方法(Board mount) バキューム吸着(Vacuum clamper)
基板アライメント(Alignment) 高精度自動アライメント標準装備(Automatic alignment)
検査方式(Test method) オープン検出測定（導通検査）
Open detection (Continuity Test)

設定範囲：1.0-10 MΩ
(Range：1.0-10MΩ)

設定範囲:0.1 – 1GΩ
(Range：0.1-1GΩ) 注4(Note4)
ショート検出測定(絶縁測定)/250V（最大） 設定範囲：100 MΩ (最大)迄 / 250V
(Range ： up to 100 MΩ max)
容量測定
Capacitance measurement		 マスター値による相対比較(Range：1fF-10uF)
(Comparison with master data)
低抵抗測定(4端子方式)(Option)
Low resistance measurement (4-wire Kelvin)

設定範囲：1.0mΩ-4.8Ω(Option)
(Range：0.1 mΩ-4.8kΩ)

設定範囲：1.0mΩ-10kΩM
(Range：0.1mΩ-10kΩ)
検査結果出力方式(Test Output) 内容(Contents) 測定結果・検査日時・図番
不良情報 (座標・ネット番号・測定値・不良内容・使用プローブNo)
Result, Date, Board number, Defect information (X-Y coordinates, Net No., Test parameter, Defect contents, Probe No.)
媒体(Media) ディスプレイ・プリンタ・HDD・USB(Display, Printer, HDD, USB)
検査データ編集(Data Management) 入力フォーマット(Input format) TIS
検査データ作成ソフト(Test data preparation) 市販CAMソフトウェア(Commercially available CAM s/w)
不良解析ソフト(Failure analysis) 市販解析ソフトウェア(Commercially available s/w)

用途事例

プリント基板製造メーカ。
ガラス基板製造メーカプリント基板製造メーカ。
基板検査を請け負うテストサービスメーカ。